在数字电路测试中，UDFM（Unified Delay Fault Model）模型是一种测试模型，用于描述电路中的故障。UDFM模型分为两种主要类型：Static Faults（静态故障）和 Delay Faults（时序故障）。

Static Faults（静态故障）:

描述: 静态故障通常指的是在逻辑门中的短路故障（Short Faults）和开路故障（Open Faults），这些故障不引起时序延迟的变化。

set_fault_type 设置: 在使用UDFM模型生成ATPG（Automatic Test Pattern Generation）向量时，如果设置 set_fault_type 为 static_faults，系统将考虑这些静态故障。这时生成的测试向量主要用于检测这些静态故障。

应用: 适用于那些在逻辑电路中引起静态逻辑故障的测试目的，如短路和开路。

Delay Faults（时序故障）:

描述: 时序故障是指在电路中引起时序延迟变化的故障，如传输门延迟、时钟延迟等。

set_fault_type 设置: 如果设置 set_fault_type 为 delay_faults，系统将考虑时序故障。这时生成的测试向量主要用于检测这些时序故障。

应用: 适用于那些在电路中引起时序延迟变化的测试目的。

根据你的描述，如果在设置 set_fault_type 为 static_faults 时不能生成测试向量，而设置为 delay_faults 时可以，可能有以下几种可能性：

测试目标选择不当：静态故障和时序故障需要不同的测试向量来检测。确保你的测试目标与设置的 set_fault_type 相匹配。

电路结构和设计特性：某些电路结构和设计特性可能更适合时序故障的检测。例如，如果电路中存在主要的时序元素，使用 delay_faults 可能更为有效。

工具特定问题：某些ATPG工具可能对设置的 set_fault_type 有特定的要求或限制。确保你使用的工具的文档和帮助资源。

如果问题仍然存在，你可能需要进一步查看UDFM模型、ATPG工具和设计本身的文档，或者联系工具供应商的支持团队以获取具体的帮助。