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udfm模型生成atpg向量

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[待解决问题]

为什么利用udfm模型生成atpg向量时,使用set_fault_type时为什么设置成static_faults时不可以生成测试向量,只有使用delay_faults时才可以生成测试向量?

lllzx的主页 lllzx | 初学一级 | 园豆:6
提问于:2024-01-03 16:23
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在数字电路测试中,UDFM(Unified Delay Fault Model)模型是一种测试模型,用于描述电路中的故障。UDFM模型分为两种主要类型:Static Faults(静态故障)和 Delay Faults(时序故障)。

Static Faults(静态故障):

描述: 静态故障通常指的是在逻辑门中的短路故障(Short Faults)和开路故障(Open Faults),这些故障不引起时序延迟的变化。

set_fault_type 设置: 在使用UDFM模型生成ATPG(Automatic Test Pattern Generation)向量时,如果设置 set_fault_type 为 static_faults,系统将考虑这些静态故障。这时生成的测试向量主要用于检测这些静态故障。

应用: 适用于那些在逻辑电路中引起静态逻辑故障的测试目的,如短路和开路。

Delay Faults(时序故障):

描述: 时序故障是指在电路中引起时序延迟变化的故障,如传输门延迟、时钟延迟等。

set_fault_type 设置: 如果设置 set_fault_type 为 delay_faults,系统将考虑时序故障。这时生成的测试向量主要用于检测这些时序故障。

应用: 适用于那些在电路中引起时序延迟变化的测试目的。

根据你的描述,如果在设置 set_fault_type 为 static_faults 时不能生成测试向量,而设置为 delay_faults 时可以,可能有以下几种可能性:

测试目标选择不当:静态故障和时序故障需要不同的测试向量来检测。确保你的测试目标与设置的 set_fault_type 相匹配。

电路结构和设计特性:某些电路结构和设计特性可能更适合时序故障的检测。例如,如果电路中存在主要的时序元素,使用 delay_faults 可能更为有效。

工具特定问题:某些ATPG工具可能对设置的 set_fault_type 有特定的要求或限制。确保你使用的工具的文档和帮助资源。

如果问题仍然存在,你可能需要进一步查看UDFM模型、ATPG工具和设计本身的文档,或者联系工具供应商的支持团队以获取具体的帮助。

Technologyforgood | 园豆:6170 (大侠五级) | 2024-01-15 19:56
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