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atpg测试向量生成问题

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[待解决问题]

请问利用tessent的atpg工具怎么给时序电路生成测试向量呀?

lllzx的主页 lllzx | 初学一级 | 园豆:6
提问于:2024-01-05 17:05
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在使用Tessent的ATPG(Automatic Test Pattern Generation)工具生成测试向量时,你需要执行以下步骤:

设置工作环境: 确保你的工作环境中已经正确安装了Tessent工具,并设置好相应的环境变量。你可能需要在终端或脚本中运行一些设置命令,具体取决于你使用的操作系统和工具版本。

准备设计文件: 提供你的时序电路设计文件,通常是Verilog或VHDL描述的RTL(Register-Transfer Level)电路。确保你的设计包含必要的时序信息,例如时钟周期、时序约束等。

准备测试目标: 定义测试目标,确定你希望测试的电路功能和时序。这通常包括确定哪些故障是你感兴趣的,并设置一些测试覆盖目标。

运行ATPG工具: 使用Tessent的ATPG工具运行测试生成流程。具体命令和选项可能因工具版本而异,你需要查阅Tessent的文档以获取详细的使用说明。

例如,在命令行中可能是类似以下的命令:

bash
Copy code
atpg -top your_top_module -sv -log your_log_file.log -o your_output_file.v
其中,-top 指定了你的设计的顶层模块,-sv 表示使用SystemVerilog语法,-log 指定了日志文件,-o 指定了输出文件。

分析测试结果: 在生成测试向量后,ATPG工具将生成一个测试模式文件,其中包含了为实现测试目标而生成的测试向量。你可以使用仿真工具来加载这些测试向量,对电路进行仿真,并分析测试结果。

优化和调试: 根据仿真结果,你可能需要对生成的测试向量进行优化和调试。这可能涉及到调整ATPG工具的设置、修改设计以提高测试覆盖率等。

请注意,确保你已经熟悉了Tessent ATPG工具的文档,并仔细阅读有关命令和选项的说明。Tessent的工具和选项可能会随着版本的更新而有所变化,因此建议使用与你所用版本相匹配的文档。

Technologyforgood | 园豆:6430 (大侠五级) | 2024-01-08 18:55
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